(略) :0610-2240IH *** /01
項目名稱:燕東科技晶圓表面顆粒檢測設(shè)備采購
項目名稱(英文):Procurement of Wafer Surface Particles Inspection Equipment for YDMT
招標(biāo)人:北京燕 (略)
招標(biāo)機構(gòu): (略)
招標(biāo)機構(gòu)代碼:0610
招標(biāo)方式:公開招標(biāo)
投標(biāo)報價方式:線下投標(biāo)
招標(biāo)結(jié)果:重新招標(biāo)